在檢測、生產(chǎn)和設(shè)計過程中，經(jīng)常遇到貼片電容值低的問題，難道是產(chǎn)品質(zhì)量問題嗎？相信很多小伙伴為此感到迷惑，那么造成這種現(xiàn)象的原因和解決方法是什么？本文分析了貼片電容值偏低的原因及相應(yīng)的對策，并對試驗(yàn)環(huán)境、測試條件、儀器差異、材料老化等方面進(jìn)行了分析，使廣大技術(shù)人員對貼片電容值低的現(xiàn)象有了更清晰的認(rèn)識，并能更好地選擇。

影響貼片電容值低因素是因?yàn)槭裁?？我們分為以下幾點(diǎn)：

1.測量儀器的差異對測量結(jié)果的影響

大容量電容(通常指大于1UF)更容易出現(xiàn)低電容現(xiàn)象，造成這種現(xiàn)象的主要原因是電容兩端施加的實(shí)際電壓不能滿足測試條件所要求的電壓，這是因?yàn)橛捎趦x器的內(nèi)部阻抗電壓，在電容兩端增加的測試電壓與實(shí)際顯示的設(shè)定電壓不一致。為了最大限度地減小測量結(jié)果的誤差，我們建議對儀器進(jìn)行調(diào)整，并盡可能根據(jù)測量到的電容兩端的實(shí)際電壓來調(diào)整儀器的設(shè)定電壓，使被測電容上的實(shí)際輸出電壓保持一致。

2.試驗(yàn)條件對測量結(jié)果的影響

首先，考慮到測量條件的問題，將使用不同的測試條件來測量不同電容值的補(bǔ)片電容器的電容，主要是測試電壓和測試頻率的不同。下表顯示了不同電容值的測量條件：

電容器交流電壓頻率

容量>；10μF 1.0±0.2Vrms 120 Hz

1000 pF≤有限公司，容量小于10μF1.0±0.2Vrms1kHz

容量<1000 pF1.0±0.2Vrms1MHz

3.測量環(huán)境條件對測量結(jié)果的影響

貼片陶瓷電容(X7R/X5R/Y5V)系列產(chǎn)品被稱為非溫度補(bǔ)償元件，即在不同的工作溫度下，電容將發(fā)生顯著變化，在不同的工作溫度下，名義電容值與實(shí)際電容值之間的差異也很大。例如，40℃的測試容量將比25℃的測試容量低近20%?？梢钥闯?，當(dāng)外界環(huán)境溫度相對較高時，電容值的測試值將明顯降低。我們通常建議將材料放置在20℃處一段時間，以便在一個穩(wěn)定的測試環(huán)境中對材料進(jìn)行測試。

4.MLCC產(chǎn)品的老化現(xiàn)象

材料老化是指在以鐵電材料為介質(zhì)的所有材料中，電容的電容隨時間而減小的現(xiàn)象，這是一種自然的、不可避免的現(xiàn)象。究其原因，是由于內(nèi)部晶體結(jié)構(gòu)隨溫度和時間的變化而降低，屬于可逆現(xiàn)象。當(dāng)老化材料在高于材料居里溫度的一段時間內(nèi)(容量恢復(fù)的推薦條件為150℃/1h)，當(dāng)室溫恢復(fù)到室溫(室溫下25℃，24小時)時，材料的分子結(jié)構(gòu)將恢復(fù)到原來的狀態(tài)。材料將在另一個循環(huán)中開始老化，貼片電容的電容將恢復(fù)到正常的規(guī)格。

解決貼片電容值低辦法都有哪些？如下：

1.試驗(yàn)條件對測量結(jié)果影響的對策

對于電容不同的電容，采用不同的測試電壓和測試頻率來測量電容。


2.測量儀器差異對測量結(jié)果影響的對策

在測量電容值時，對儀器進(jìn)行調(diào)整，并盡可能調(diào)整儀器的設(shè)定電壓，以盡可能調(diào)整在產(chǎn)品兩端測量的電壓，使被測物體上的實(shí)際電壓與輸出電壓一致。

3.解決MLCC產(chǎn)品老化現(xiàn)象的對策

高溫烘焙：將試驗(yàn)容量低的產(chǎn)品置于環(huán)境溫度為：150℃烘烤1小時后，在室溫下放置25℃，24小時后測試，公差值將恢復(fù)到正常的規(guī)格范圍，或?qū)⒌蜏y試容量的產(chǎn)品浸入錫爐或過再流焊，然后進(jìn)行測試，容量值將恢復(fù)到正常的規(guī)格范圍。

4.解決環(huán)境條件對測量結(jié)果影響的對策

產(chǎn)品放置在20℃的環(huán)境中一段時間，使材料能夠在更穩(wěn)定的測試環(huán)境中進(jìn)行測試。